Schnelle Einschwingzeiten um 5 Millisekunden und eine Positionsauflösung unter einem Nanometer sind die herausragendsten Eigenschaften des piezobasierten Fokussiersystems P-736 von Physik Instrumente (PI). Der Piezoscanner positioniert Objektträger um bis zu 200 µm entlang der optischen Achse und ist somit ideal für Anwendungen im Bereich der optischen Abbildungen und der Mikroskopie geeignet. » weiterlesen









